2014年4月9日，北京――日前，由IEEE MTT-S（IEEE微波理论与技术分会）和中国电子学会微波分会联合举办的第二届“无线会议”（IEEE IWS2014）在西安绿地笔克会展中心顺利落幕。作为zui大的测试测量公司，安捷伦科技（NYSE：A）是本次会议的白金赞助商，携手合作伙伴准备了5大展台，展出了的测试测量解决方案，陕西省副省长李金柱出席了此次展览，并参观了安捷伦展台。展会同期，安捷伦还举办了“有源微波器件进阶测试技术讲座”和“航空航天和国防电子测量技术讲座”，共吸引了近350人与会。

陕西副省长李金柱参观安捷伦展台

安捷伦科技本次展出涵盖了毫米波/T赫兹、雷达和电子战、复杂信号产生与分析、4G无线通信、进阶微波器件测试、高速数字电路分析等内容，更是在国内展示了325GHz高精度频谱仪和信号源等样机和系统方案，为客户和业内专家展示了安捷伦的射频微波测试方案。

研讨会现场

展览同期，为了帮助国内客户深入了解微波器件特别是放大器、变频器等有源器件的测试技术，安捷伦举办了“有源微波器件进阶测试技术讲座”。安捷伦元件测试集团科学家Joel Dunsmore 结合现场实物测试演示，为专业客户进行了4小时的有源器件测试技术剖析，深入讲解了测量评估放大器和混频器等复杂有源微波源器件的技术、有效提高校准精度和测试效率的方法、夹具内测试精度优化技术以及大功率测试的优化方法等。

演示安捷伦解决方案

而同期举办的“航空航天和国防电子测量研讨会”则与国内用户一起分享了目前的热点题目，内容涵盖了国防电子、雷达和电子战、微波和通信领域等共计10多个前沿课题。翔实的内容，专业的听众，深度的交流，为国内专业人士和*专家之间以及国内专业人士之间搭建了良好的学术和产业交流机会。

对于未能及时参加此次盛会的观众，也可登陆安捷伦网上测试测量大会的在线平台，安捷伦精挑细选了众多热门应用讲座及相关产品应用视频，让用户可以随时随处了解安捷伦更多产品及解决方案。